研测相长 卷中求胜,新一代光电芯片从研发到量产的测试保障
时间:2024-07-15

2024年7月12日,“2024中国检测技术与半导体应用大会暨半导体分析检测仪器与设备发展论坛”于上海隆重开幕,来自半导体领域的众多科研院所专家教授、企业家代表等500多名人士参加此次大会。

本次大会搭建了创新链、产业链和供应链的合作平台,为高校科技成果转移转化链接合作机遇,为半导体检测与测试设备、仪器企业提供展示技术和产品的舞台。柯泰光芯受邀参展。



在需求变化快、指标不断涨的行业内卷背景下,面对测试标准不成熟、测试方法不完备的不利条件,如何快速获得准确指标、高信心送样、高概率获得订单,再高良率生产,从而快速成长、做大做强?这是众多从业者的普遍期望。

针对新应用催生出的对光电器件测试的这些新要求,柯泰光芯总经理张骞发表演讲,为听众们呈现了从研发到量产的测试保障。



自成立以来,柯泰光芯一直专注于激光器和光探测器的测试测量方法、测试功能模块、综合测试系统和自动测试设备的研发与生产,并形成了系列产品。
从晶圆(包括整晶元、残片、裸芯片等)到模组(包括封装芯片、COB、COC等),柯泰光芯的测试产品覆盖了从研发阶段到量产测试的各个环节。
在研发阶段,柯泰光芯帮助用户实现不同产品的性能验证,进行上游芯片与下游终端的匹配;到量产阶段,柯泰光芯致力于提升机台的稳定性与UPH,进行数据库对接,打通整个测试流程。



大会圆满收官,柯泰光芯也将继续秉持初心,以技术创新为驱动力,在自主研发光电半导体器件测试设备这条道路上越走越远!

Copyright © 柯泰光芯(常州)测试技术有限公司 版权所有