柯泰光芯发布VMP9001,4大新功能上线
时间:2023-08-14

为了满足市场对更高效、更可靠测试解决方案的需求,柯泰光芯近日发布了VMP9001。


这台测试设备,是基于专为VCSEL激光雷达应用而设计的窄脉冲驱动的晶圆量产测试设备——VMP9000的更新,集合了更快的UPH、集成反向漏电流测试、更大的脉冲功率及针痕检测等新功能。



01  更快的UPH


业界领先的UPH已使VMP9000窄脉冲晶圆量产测试台非常适用于量产阶段CP测试,通过创新的技术和流程优化,VMP9001的每小时产量(UPH)远超VMP9000大于2000颗/小时1倍,极大地缩短测试周期,从而提高测试效率。


02  集成反向漏电流测试


反向漏电流测试可以用来检测 VCSEL 器件的质量。高质量的 VCSEL 应该在反向偏置情况下具有较低的漏电流,这有助于确保器件的稳定性和可靠性。过高的反向漏电流可能导致VCSEL器件损坏或不稳定,在量产前进行反向漏电流测试可以排除不合格品,提高产品质量。


VMP9001将反向漏电流测试与原有的测试整合成整体,可实现用户在同一个机台上进行性能测试。支持反向最高可达负200v的反向电压测试、nA量级的精度,以满足客户的测试需求。


在测试过程中,通过确定在反向偏置(反向电压)情况下是否存在异常的漏电流,以确保VCSEL器件在不同电压与窄脉冲条件下的性能稳定,在进入下游封装和模块集成之前排除可能存在的缺陷和问题。


03  更大的脉冲功率


激光雷达等应用需要VCSEL在高功率下稳定工作,VMP9001支持最大30A脉冲电流输出能力,大幅提升测试功率范围,在晶圆端实现更高输出功率的测量,帮助用户对VCSEL进行更准确的性能评估。


04  针痕检测


在晶圆测试的过程中,容易出现针迹偏移、针痕过深等针痕问题。VMP9001具备针痕检测功能,用户可判断针痕面积是否过大、针痕位置是否太靠近芯片焊点pad区边界、针痕是否过深,从而提高产品的合格率和可靠性,保证机台测试可靠性。


柯泰光芯在为我们的客户提供专业的测试测量解决方案的道路上不断前行。如需了解该款产品更多信息,请联系info@cotest.com.cn。柯泰光芯也将亮相2023年深圳光博会,如您有兴趣可届时前往6A29展位,我们期待您的光临!



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